Nel programma ufficiale della fiera A&T 2018 — Sala Area Corsi – Testing
Il convegno ha l’obiettivo di incontrare metrologi nella scienza e nell’industria per valutare le attuali sfide della metrologia delle superfici funzionali nella manifattura altamente parallela.
A cura di INRIM – Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica
10:30 Introduzione – Introduction
Gian Bartolo Picotto (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica)
10:45 Metrology for the highly-parallel manufacturing: the MetHPM project – Metrologia per la manifattura altamente parallela: il progetto MetHPM
Christopher Jones (National Physical Laboratory, UK, project Coordinator)
11.35 Applicazioni di metrologia ottica ed elettrica per la mass production delle celle fotovoltaiche – Applications of optical and electrical metrology in mass production of photovoltaic cells
Stefano Visintin (Baccini Cell Systems, Applied Materials Italy)
12.15 Caratterizzazione funzionale di conduttori stampati su celle PV e su fogli plastici R2R – Function-driven characterization of printed conductors on PV cells and plastic R2R sheets
Luigi Ribotta (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica)
12.50 Tecnologie ed applicazioni di misura ottica submicrometrica in ambiente di produzione – Submicrometric optical measurement technologies and applications in a production environment
Fabio Rosi (VEA srl)
13.10 L’implementazione del controllo qualità nell’industria del futuro 4.0 – The Implementation of Quality Assurance Processes in the future Industry 4.0
Graziosi Gabriele (GOM Italia Srl)
13.30 Conclusioni – Conclusions
Gian Bartolo Picotto (INRIM)
Le aziende interessate a fare un intervento possono prendere contatto con Gian Bartolo Picotto (g.picotto@inrim.it) oppure con Massimo Mortarino (mmortarino@aetevent.com)
Per maggiori informazioni e per iscriversi all’evento si prega di visitare il sito dedicato.